日本理學波長色散XRF
德國蔡司掃描電鏡
蔡司工業(yè)CT與三維掃描儀
德國斯派克能量色散XRF
德國斯派克直讀光譜儀
德國斯派克ICP
絕緣電阻測試系統(tǒng)
物理材料實驗室設(shè)備
標準樣品
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德國蔡司掃描電子顯微鏡EVO系列-華普通用
蔡司 EVO 系列模塊化的 SEM 平臺適用于直觀操作、例行檢測和研究應用 -
德國蔡司ZEISS鎢燈絲掃描電鏡EVO10-華普通用
ZEISS商業(yè)化電鏡的歷史和經(jīng)驗已超過60年，其技術(shù)先進、性能卓越，在失效分析以及各種分析研究中具有廣泛的應用。 ZEISS不斷追求、推出新的技術(shù)和新的產(chǎn)品 -
德國蔡司 GeminiSEM 場發(fā)射掃描電子顯微鏡-華普通用
蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM兼具出色的成像和分析能力，不依靠浸沒式物鏡依然可以輕松實現(xiàn)1 kV以下的亞納米級分辨力。以下內(nèi)容可以使您進一步了解Gemini電子光學系統(tǒng)的三大獨特設(shè)計，探索 -
德國蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma 系列產(chǎn)品-華普通用
德國蔡司Sigma 系列產(chǎn)品用于高品質(zhì)成像與高級分析的場發(fā)射掃描電子顯微鏡 -
德國蔡司FIB雙束掃描電鏡Crossbeam 350-華普通用
蔡司FIB雙束掃描電鏡Crossbeam 350結(jié)合了高分辨率場發(fā)射掃描電鏡（FE-SEM）的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦離子束（FIB）的優(yōu)異加工能力。 -
德國蔡司FIB雙束掃描電鏡Crossbeam 550-華普通用
蔡司FIB雙束掃描電鏡Crossbeam 550結(jié)合了高分辨率場發(fā)射掃描電鏡（FE-SEM）的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦離子束（FIB）的優(yōu)異加工能力。 -
德國蔡司多束掃描電子顯微鏡MultiSEM系列-華普通用
德國蔡司 MultiSEM 研究合作計劃全球速度非凡的掃描電子顯微鏡